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  • PKIV6035光隔离探头在800V车载OBC SiC Vgs串扰(Crosstalk)中的实操案例 PKIV6035光隔离探头在800V车载OBC SiC Vgs串扰(Crosstalk)中的实操案例

    800V OBC上管Vgs串扰属于高共模,差模小信号场景,普通高压差分探头高频CMRR不足,波形不可采信;光隔离探头光纤完全电气隔离,搭配板载 MMCX短引线,可获取真实的栅极串扰波形,用于评估SiC误导通/栅极击穿风险,是车载 OBC SiC 功率环路开发的标准测试方案....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-10-08    浏览次数:627
  • PKIV6050光隔离探头在800V车载OBC/DC-DC高压浮地测试中的应用 PKIV6050光隔离探头在800V车载OBC/DC-DC高压浮地测试中的应用

    在800V母线,高dv/dt工况下,PKIV6050完整捕获Vgs过冲,Vds振铃和浮地PWM细节....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-09-30    浏览次数:885
  • PKIV6035光隔离探头在新能源汽车SiC电机控制器测试中的应用 PKIV6035光隔离探头在新能源汽车SiC电机控制器测试中的应用

    PKIV6035光隔离探头凭借350MHz高带宽,≤1ns快上升时间以及光纤全隔离设计,在新能源汽车SiC电机控制器等高压高速浮地测试中表现卓越....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-08-21    浏览次数:823
  • PKDV508E高压差分探头在K线通信方面的应用案例 PKDV508E高压差分探头在K线通信方面的应用案例

    PKDV508E 高压差分探头用于新能源低速车KWP2000/ISO14230 K线通信测试,高共模抑制浮地隔离测量,抑制车载共模干扰,精准采集 K 线波形,完成 ECU,BMS诊断协议解码,规避地环路损坏风险....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-08-07    浏览次数:920
  • PK-CWT/30柔性电流探头在800V车载SiC电机控制器开关损耗与短路故障测试中的应用 PK-CWT/30柔性电流探头在800V车载SiC电机控制器开关损耗与短路故障测试中的应用

    PK-CWT/30凭借12kA峰值量程,16MHz宽频,高di/dt耐受与柔性安装特性,完美适配800V高压SiC电机控制器全维度电流测试需求,解决传统测量工具空间受限,波形失真,拆装繁琐等核心痛点,是新能源高压动力总成研发,可靠性验证的标准化测试方案....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-08-03    浏览次数:1069
  • PKHV3020高压衰减棒测试CE6火花塞打火波形应用方案 PKHV3020高压衰减棒测试CE6火花塞打火波形应用方案

    利用PKHV3020高压衰减棒的高精度分压特性,将CE6火花塞打火产生的高压瞬态信号按比例衰减至示波器可测量范围,完整捕捉打火峰值电压,持续时间,波形震荡特性等关键参数....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-07-31    浏览次数:1024
  • PKIV6035光隔离探头在800V新能源汽车 SiC 主驱逆变器双脉冲测试中的应用 PKIV6035光隔离探头在800V新能源汽车 SiC 主驱逆变器双脉冲测试中的应用

    PKIV6035凭借350MHz高带宽,超高共模抑制比.全光纤电气隔离,宽电压量程衰减器组合,完美解决800V SiC电驱逆变器浮地高压,高速开关,强共模干扰下的精准测量难题....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-07-30    浏览次数:602
  • PK-CWTUM/300罗氏线圈在200W车载DC-DC变换器MOS管损耗测试中的应用 PK-CWTUM/300罗氏线圈在200W车载DC-DC变换器MOS管损耗测试中的应用

    普科 PK-CWTUM/300罗氏线圈.300A峰值,30MHz 带宽,纤细柔性线圈适配 TO-220狭小引脚,用于车载 DC-DC,MOS 管IGBT开关损耗测试,精准捕捉高频脉冲与低频直流电流波形....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-07-27    浏览次数:933
  • PKIV6035光隔离探头在800V 新能源汽车 SiC 主驱逆变器双脉冲与上管 Vgs 串扰测试中的应用 PKIV6035光隔离探头在800V 新能源汽车 SiC 主驱逆变器双脉冲与上管 Vgs 串扰测试中的应用

    PKIV6035除新能源SiC主驱逆变器外,同样适配光伏储能逆变器,大功率充电桩,工业高压变频器,GaN 高频快充电源,数据中心800V高压直流电源等高压浮地,高速宽禁带器件动态测试场景,是第三代半导体研发实验室标配测量工具....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-06-30    浏览次数:616
  • 基于PKHV3012构建TENG长期循环高压测试系统 基于PKHV3012构建TENG长期循环高压测试系统

    本方案构建了一套用于长期,稳定评估TENG寿命的高压测量科学体系.其核心在于通过硬件固定化,校准周期化,验证日常化,数据关联化的系统工程方法,将PKHV3012的硬件高性能转化为可持续的测量高可靠性....

    发布:西安普科科技    更新时间:2026-05-29    浏览次数:1008
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